Açıklama:
Sonda: F probu, N probu
Manyetik indüksiyon: Ölçüm prensibi(F), Girdap akım etkisi(N)
Ölçüm aralığı: 0-2000um
Hassas: ±(%3+1um)
Çözünürlük: 0um-99.9um(0,1um) 100um-999um(1um) >1000um(0.01mm)
Sıfır kalibrasyon: destek
İstatistik: Ortalama, minimum, maksimum, sayı
Birim: um,mm,mils
Minimum dışbükey Radyan: 0.5cm
Minimum içbükey Radian: 2.5cm
Minimum ölçülen alan: Çap 2.0cm
Minimum substrat kalınlığı: 0.02cm 0.005cm
Maksimum ölçüm hızı: Saniyede 2 okuma
Güç kaynağı: 2 * 1.5V AAA pil(içermez)
Çalışma ortamı: Sıcaklık 0-50°C, 20-90% rh (yoğun olmayan)
Koruma ortamı: Sıcaklık:-10-60°C, %20-90 rh (yoğuşmama)
Boyut /ağırlık/malzeme: 11.3cmX5.3cmX2.4cm/80g/ABS
Özellikler:
Kısa tanıtım
Bu ürün esas olarak metal yüzeyde iletken olmayan kaplamanın kalınlığını ve ferromanyetik metal üzerindeki ferromanyetik olmayan kaplamanın kalınlığını ölçmek için kullanılır. (demir, nikel, kobalt vb.), otomobil yüzeyinde boya kalınlığı, metal parçaların kaplama kalınlığı vb.. Bu ürün ayrıca yerleşik manyetik indüksiyon ve girdap çift prensip probuna sahiptir, ölçülen metal substratı otomatik olarak tanımlayabilir, sadece ölçülen yüzeye yerleştirilmesi gerekir, kaplamanın kalınlığını otomatik olarak hesaplayabilir.
1. Kalınlık göstergesi, örneğin metal üzerindeki kaplamalı ve kaplamalı levhanın kalınlığını ölçmek için kullanılır.. çelik üzerine boya/emaye/krom, alüminyum/bakır üzerine boya ve eloksal kaplama.
2. Ölçüm aralığı 0-2000UM'dir.
3. Ölçer hassas entegre probu alır ve elektro manyetik indüksiyon ilkelerini ve substratların özniteliğini otomatik olarak algılayan girdap akım etkisini kullanır.
4. Gösterge, kaplama ve boyama kalınlığını tahribatsız bir şekilde ölçmek için tasarlanmıştır.
5. Malzeme yüzey işleme için gereklidir ve imalat sanayinde, metal işleme endüstrisinde, kimya endüstrisinde, emtia denetim alanında yaygın olarak kullanılır ve ayrıca laboratuvarda, atölyede ve dış mekanda istikrarlı bir şekilde çalışabilir.
Paket içeriği:
1 x kalınlık ölçer
1 x Manuel
1 x Kalibrasyon sayfası
Teslim edilmediğinde para iadesi
